做集成電路失效分析寫(xiě)的論文投稿哪些期刊

　　隨著工業(yè)領(lǐng)域?qū)φ麢C(jī)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作顯得愈發(fā)重要。失效分析就是了解失效現(xiàn)象、判斷失效模式、定位發(fā)生失效的故障點(diǎn)、查找失效原因、弄清失效機(jī)理、預(yù)防類(lèi)似失效情況再次發(fā)生。做集成電路失效分析方面的論文投稿哪些期刊?下面小編推薦的兩本刊物，以下是兩本期刊的簡(jiǎn)單介紹。

　　《電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)》是經(jīng)國(guó)家科委批準(zhǔn)，由中國(guó)科協(xié)主管，中國(guó)電子學(xué)會(huì)主辦的國(guó)內(nèi)外公開(kāi)發(fā)行的學(xué)術(shù)刊物。 始終以促進(jìn)電子測(cè)量技術(shù)學(xué)科事業(yè)的發(fā)展為宗旨，致力于及時(shí)反映本學(xué)科的科研新成果，溝通國(guó)內(nèi)外相關(guān)專(zhuān)業(yè)科技人員間的信息交流，鼓勵(lì)首創(chuàng)精神、倡導(dǎo)理論聯(lián)系實(shí)際的優(yōu)良學(xué)風(fēng)，為將先進(jìn)的科學(xué)技術(shù)轉(zhuǎn)化為先進(jìn)的生產(chǎn)力，出成果、出人才提供了一個(gè)學(xué)術(shù)平臺(tái)。

　　《集成電路應(yīng)用》雜志立足于中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)，面向電子系統(tǒng)制造商與方案設(shè)計(jì)公司，致力于滿(mǎn)足技術(shù)管理人員對(duì)新技術(shù)、新方案以及市場(chǎng)信息的需求。期刊收錄集成電路失效分析方面的論文有“ 擴(kuò)頻通信集成電路SC1128的應(yīng)用”、“電壓襯度在CMOS集成電路失效分析中的應(yīng)用”等。